一、系统功能及用途

J200激光质谱联用元素分析仪象征了化学分析仪器的真正创造性发展。系统将LA（激光剥蚀进样）与LIBS激光等离子光谱技术相结合，与ICP-MS联用后，实现LIBS与LA-ICP-MS同时测量。

系统具备多种测量功能：同时测量常量、微量元素和同位素（与ICP-MS连用）；分析有机元素及轻元素；快速元素制图；归一化ICP-MS等离子体发射信号。主要用于土壤、植物、岩石矿物、合金、材料、煤粉等样品的化学组分分析。

J200激光质谱联用元素分析仪可与市面上常见的质谱如普通四级杆质谱、飞行时间质谱和多接收质谱等联用。

二、工作原理

J200激光质谱联用元素分析仪将LA与LIBS技术相结合：J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输至ICP-MS系统。

三、系统组成：

主机系统：包含激光器及控制系统、激光传输光学元件、样品台、样品室、气体管路系统等、样品成像系统等；

等离子体光谱检测器；

系统软件；系统操作软件、数据分析软件、TruLIBS发射光谱数据库、化学统计软件。

四、 应用领域

生态环境领域（如土壤、植物分析）

中药鉴别与质量监控

刑侦微量无证分析

农产品安全检测

地质矿石分析、宝石鉴定

其他应用：合金组分检测、煤粉组分测、海底沉积物分析、考古、半导体检测等。

五、硬件特点：

高度稳定Q-switched 短脉冲Nd:YAG激光，波长至213 nm。

紧凑和模块化设计，J200具有LA和LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA 或LIBS，或者同时运行LA- LIBS复合系统。

自动样品高度调整功能，解决样品表面凹凸不平，保持相同的激光焦点，提供相同的激光能量，确保所有采样点的激光剥蚀均匀一致。ASI公司的此技术获得美国专利。

Flex样品室内置镶嵌块，优化气流和颗粒清洁能力，满足不同测量需求。并且，Flex测量室的设计为等离子体光提供最佳观测角度，LIBS测量更灵敏。

先进的微集气管设计，已申请美国专利，最大程度减少排气，防止集结剥蚀颗粒，消除记忆影响。

双路、高精度的数字流量控制器和电控阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。运输气体和补充气体流向样品室，ICP-MS系统按顺序自动运行，并被精确控制，带来完美气流，防止等离子体火焰喷出。

高分辨率双相机系统和先进的照明系统。双CMOS相机分别用于宽视野观察样品表面和高倍成像某一区域。具备三种照明方式：LED泛光灯、透射光和同轴反射光，光强和色彩可控。

    来自美国专家团队的LA和LIBS应用支持。ASI公司依托美国劳伦斯伯克利国家实验室几十年激光剥蚀研究成果，技术团队科研经历丰富，能够为用户提供最专业的LA和LIBS系统应用指导。

六、软件特点

系统软件Axiom LA具有直观友好的图形用户界面（GUI）和强大的数据分析功能。可浏览不同样品区域，设置多种采样方法；分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号；整合了J200 LA-LIBS系统与ICP-MS系统双向通讯控制。通过系统软件，轻松控制硬件组件，实现自动测量。

轻松实现复杂的激光采样模式。系统软件的大对话窗口清晰显示样品图像，并任意编辑激光采样方式，如直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义模式等。结构繁杂的样品表面，也可准确采样。

多种分析方法：全分析、夹杂物和微斑分析、深度分析和元素分布制图。

通过软件菜单实现自动化测量。汇总多个硬件组件指令，按时间排序，创造软件“菜单”。执行“菜单”实现自动化测量。调用“菜单”即可重复测量，也可复制部分“菜单”并结合新指令，制定新的采样方法。强大的数据分析工具用于复杂的LIBS光谱分析。Trulibs?是ASI公司特有的LIBS光谱数据库，来自真正的LIBS等离子体，谱线识别快速而准确。波长、元素等搜索在数秒内完成。支持直接上传LIBS谱线。

连续背景去除、峰面积积分、重叠光谱的曲线拟合等光谱分析功能，有效处理LIBS谱峰，进行定量分析。在多激光脉冲采样过程中，监测LIBS强度统计或不同样品LIBS强度比率。能够同时处理单个LIBS光谱、整个文件夹或目录，缩短了分析时间。

通过 LIBS GDT化学统计软件，实现LIBS