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仪器编号: BRA-135F
仪器参数: [{"行业专用类型":"通用"},{"重复性":"0.1%"},{"能量分辨率":"145eV"},{"分析含量范围":"0.01%"},{"元素分析范围":"F（9）- 92U（92）"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家: 广州贝拓科学技术有限公司
仪器介绍: X射线荧光分析仪BRA-135F可实现固体、粉末和液体样品及物体表面覆盖物和滤网中沉积样品的快速分析，二十几种元素可在300s内同时测定，检出限在100ppm 量级范围内。工作原理能量色散荧光分析仪工作原理是用SDD半导体检测器探测样品被激发源激发所散射的各种能量的特征X射线荧光。半导体检测器的原理为，当X射线射入半导体时，带能量的射线量子转化为脉冲电流向外电路输出，因此探测器输出信号振幅与接收到的X射线能量成正比，根据输出信号的幅度和大小，对样品中化学元素进行定性定量分析。特点：分析元素范围9F - 92U定量分析采用基本参数法进行元素定量半定量分析内置控制PC免辐射安全检查，无需特殊提供房间放置方法优势：XRF在同类元素定性定量分析方法中占主导地位。主要特点为：样品无损检测、多元素同时分析、分析速度快、准确率高；灵敏度高、可检浓度范围大、定量分析理论发展水平高、无标样也可进行定量分析。高分辨SDD探测器配有超薄衍射线接收窗口的硅探测器，扩大了X射线能量检测范围检测限低优化了探测器制造材料及初级滤光片的厚度，加配了高亮度的X射线光源系统，这使检测限降低，保证了各元素得到最佳测试效果，真空状态下可以测定从9F到17Cl的轻元素。形状不规则样品的分析可用于大块或不规则形状样品测试，如：大尺寸矿产和金块工业物品的ROHS分析金属及合金的来料控制特殊细胞中或滤膜表面液体的分析实用性完善的辐射安全防护重量轻便便于搬运内置电脑可连接到局域网远程控制测量分析和数据的存档可集成到实验室信息管理系统防止未经授权的数据访问，保护数据技术指标：分析元素范围9F - 92U不改进探测器时的检测限，%Na ~MgAl ~ClK ~U0,010,0020,0005样品进行预先浓缩时的检测限（由化学元素决定）1.5*10-5单个样品分析的平均时间，s100能量分辨率（对Mn的Ka线）脉冲分辨频率小于104s-1，eV145X射线发生器的最大功率，kW50X射线能量，W10X射线封闭管冷却剂空气初级X衍射滤膜，pcs5单次进样个数15不规则样品最大尺寸，mmΦ200х60联网是移动是体积700х410х400设备重量，kg65电力供应220 V, 50 Hz消耗功率，VA500

海鸥-BRA-135F -X射线荧光分析仪

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