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原子力-拉曼光谱联用系统

仪器编号
NTEGRA Spectra
仪器参数
[{"仪器种类":"原子力显微镜"},{"样品台移动范围":"5mm*5mm"},{"样品尺寸":"直径小于20mm, 高度小于10mm"},{"定位检测噪声":"XY≤0.1, Z≤0.06"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家
俄罗斯NT-MDT公司上海代表处（恩特-梦迪特服务和物流有限公司）
仪器介绍
仪器简介：NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEGRA Spectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案，以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以，可以负责任的说：真正的集成是远远优于简单的组合的。激光共聚焦显微镜/拉曼光谱仪系统 NTEGRA Spectra 系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能，包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.扫描探针显微镜除了光学检测外，NTEGRA Spectra还可使用SPM的方法来研究样品，诸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统，为用户完成复杂的实验变成可能，用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。 用超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRASpectra 在检测样品时，能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图（激光传输、散射和偏振等）的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。技术参数：共聚焦显微镜光学模块 正置或倒置光学显微镜观测系统 可见光谱测量(390-800nm) 激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜390-1000nm 检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜390-1000nm 三轴定位电动式1/2波片 光束分离器 可选配倏逝激发系统（用于TERS） 光学分辨率 XY：200nm Z：500nm扫描模块 最大样品质量：1000g 最大扫描范围：100x100x25 um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 XY方向非线性度：0.03 % （典型值） Z方向噪音水平：<0.2 nm （典型值）XY方向噪音水平：<0.5 nm（典型值）共聚焦针孔直径0~1.5mm可调，步进0.5 um注：无论样品是否透明，都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。拉曼光谱仪 光谱仪焦长520 mm 激光器波长*441, 488, 514, 532, 633 nm杂散光抑制10-5，（20nm 用632nm激光器 ）平场面积28 mm x 10 mm 光谱分辨率0.025 nm (1200 l/mm光栅**)端口1输入，2输出 光栅座4孔转盘（3 个光栅+“直接成像”模式用的反射镜） 探测器CCD：光谱响应范围：200–1000 nm，电冷装置冷却至–80°C，500nm时95% 量子效率用于光子计数的APD***：光谱相应范围：400–1000 nm，暗计数=25/秒，提供高达1GHz计算速度的PCI卡。 * 标准配置中包括一套488 nm激光器，其他波长激光器可选配 ** 可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率 ***可选用PMT扫描近场光学显微镜 功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，荧光模式（选配） 激光模块耦合装置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um V型槽光纤固定器 装配40x物镜 光纤传输系统 KineFlexTM 光束衰减器：可配多种减光镜 剪切力成像 样品尺寸：最大直径100mm，最大厚度15mm XY二维样品移动平台：样品定位范围5x5mm，样品定位精度5umXYZ三维全量程闭环控制扫描系统样品扫描式 针尖扫描式 扫描范围 100x100x25 um 100x100x7 um 非线性度 XY 0.03 %（典型值）<0.15% 噪音水平 Z <0.2 nm（典型值）0.04nm（典型值），<=0.06nm 噪音水平 XY <0.5 nm（典型值）0.2 nm（典型值），<=0.3 nm 石英音叉基频 190 kHz 光纤孔径 <100nm 可同时采集的数据通道 反射模式透射模式/荧光模式 PMT 光谱响应范围：185-850 nm灵敏度：3x1010，420 nm时隔振系统 主动式：0.7-1000 Hz 被动式：大于1 kHz扫描探针显微镜 功能模式：AFM（接触+半接触+非接触）/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀：AFM（力和电流） 样品尺寸*最大直径100mm，最大厚度15mm 扫描范围50x50x5 um 闭环控制系统**XYZ三维全量程闭环控制扫描系统，采用电容传感器 非线性度 XY <0.15% 噪音水平Z 0.06 nm（典型值），<=0.07nm 噪音水平 XY 0.1 nm（典型值），<=0.2 nm (XY 50 um) *扫描头部可单独使用，此时对样品尺寸和重量无限制 **内置的电容传感器拥有极低的噪音水平，即使降到50x50 nm的区域也可以用闭环控制来扫描主要特点：AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中—在TERS中，这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。电冷至-70°C的CCD，用于光谱探测和成像。也可选用APD来进行光子计数。在激发通道和检测通道中，用户可灵活方便的配置偏光光路。多功能的集成软件控制系统，所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等，都可由软件来切换或调节。NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。

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