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天瑞仪器EDX3600H X荧光光谱仪

仪器编号
EDX3600H
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 重复性
    0.05%(主元素含量大于96%以上样品的RSD值)
  • 能量分辨率
    140±5ev(以Fe55放射源为激发源控制计数率在1000CPS以下得出)
  • 分析含量范围
    ppm--99.99%
  • 元素分析范围
    钠(Na)--铀(U)
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    天瑞仪器
    仪器介绍

    天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术,配备合金测试效果最佳的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

    EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。 
    具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。 
    同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。 
    检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。

    性能特点:

    高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 
    针对合金的测试而开发的专用配件 
    SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
    天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 
    低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好 
    智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
    自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性; 
    高信噪比的电子线路单元 
    针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
    多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制; 
    内置高清晰摄像头 
    液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

    标准配置:

    合金测试高效超薄窗X光管 
    超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
    信噪比增强器 SNE
    光路增强系统 
    高信噪比电子线路单元 
    内置高清晰摄像头 
    自动切换型准直器和滤光片 
    自动稳谱装置 
    三重安全保护模式 
    相互独立的基体效应校正模型 
    多变量非线性回归程序 
    整体钢架结构,力度可靠的保证 
    90mm×70mm的液晶屏
    外形尺寸:660mm×510mm×350mm 
    样品腔体积:Φ320mm×100mm
    重量:65Kg

    技术指标:

    测量元素范围:从钠(Na)到铀(U) 
    元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
    同时分析元素:一次性可测几十种元素 
    测量时间:60秒-200秒 
    能量分辨率为:(140±5)eV 
    管压:5KV-50KV 
    管流:50uA-1000uA

    应用领域:

    检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品