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日立EA1000AIII能量色散型X射线荧光分析仪

仪器编号
EA1000AIII
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 行业专用类型
    通用
  • 重复性
    2%
  • 能量分辨率
    小于145eV
  • 分析含量范围
    1ppm~100%
  • 元素分析范围
    原子序数13(Al)~92(U)
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    日立
    仪器介绍

    概要:

    通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。与以往仪器相比,环境管制物质的测量时间大幅缩短,材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板……易用性大大提高,分析速度更快,操作更简单。

     

     

    型号:EA1000AIII

    测量元素:原子序数13(Al)~92(U)

    样品形态:固体、粉末、液体

    射线源:X射线管球(Rh靶材)    

    管电压:最大50kV  管电流:最大1000μA

    检测器:Si半导体检测器(可升级SDD检测器)

    分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)

    样品观察:彩色CCD摄像头

    滤波器:5种模式自动切换

    样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm

    定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示

    定量分析:块体校准曲线、块体FP法

    有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy   

                                  材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

    数据处理:配备EXCEL、配备WORD

    外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm

    安装尺寸:1500(W)×1000(D)

    重量:约60kg

    使用电源(主机):AC100~240V±10%单相

    选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质

     

     

    特长:

    1.通过快速测狼提高测量效率

    与以往机型相比,每个树脂与金属样品的测量时间*均大幅缩短。每天的处理量实现跨越式增长。

    *包涵统计误差(3σ)达到Cd 20 mg/kg、Pb、Hg、Br、Cr 100mg/kg以下所需的切换时间。

     

    2.材料辨识功能

    测量开始后,可在短时间内(25秒以下)识别待测样品的材质。材料大体分为树脂(PE、PVC)、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚样品的材质,也无需为如何选择分析方法而困惑。

       ●材料辨识测量模式

         识别待测样品的材料类型,自动选择推荐的分析方法

       ●材料辨识自动测量模式

         识别待测样品的材料类型后,自动选择适合的分析方法进行测量,并显示结果。所有步骤实现全自动处理。

     

     

    3.分析线切换功能

    本功能是由仪器判断所含元素与波峰的重叠情况,并自动选择统计误差较小的分析线。可以更加有效地管理精度、提高测量效率。

     

    4.大型样品室与自动进样器(选购项)

    大容量样品室可轻松测量大型样品。自动进样器最多可连续测量12个样品,可轻易将微小的样品置于正确的测量位置上。

     

     

     

    环境限制物质测量软件Ver.2

    ●通过精度管理软件优化测量时间(Ver.1已有功能)

    ●利用数据库对各网点的测量数据进行集中管理(搜索、游览、分析、编辑、打印、制作报告)

    ●对于之前曾经测过的同一样品,可比较两次的测量结果

    ●除了RoHS分析、卤素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外,还可自由添加需要管理的元素