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日立EA1000VX X射线荧光分析仪

仪器编号
EA1000VX
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 行业专用类型
    通用
  • 重复性
    ±0.01%
  • 能量分辨率
    小于140eV
  • 分析含量范围
    PPM
  • 元素分析范围
    原子序数13(AI)-92(U)
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    日立
    仪器介绍
    品名 EA1000VX X射线荧光分析仪
    型号 EA1000VX
    概要 本台仪器是对应环境限制物质管理、可高速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。通过高速测定和材料辨别等各种新功能,检测效率得以大幅提高。也可对应膜厚测量以及贵金属分析等常规分析。
    特长
    EA1000VX产品规格
    测量元素原子序数13(Al)~92(U)
    样品形态固体・粉末・液体
    X射线源X射线管球(Rh靶)
    管电压:15kV 、50kV   
    管电流:1mA(10μA~1000μA可变 )
    X射线照射方向下方照射方式
    检测器Vortex  Si半导体检测器(无需液氮)
    准直器Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)
    样品观察彩色CCD摄像头
    样品室370(W) ×320(D) ×120(H)mm
    滤波器5种模式自动切换(包含OFF)
    操作方式笔记本或台式电脑
    软件・X-Ray Station
      定性分析(能谱测量,自动辨别,KLM标示表示,比较/差异表示,
      定量分析(块体FP法,块体检量线法)
    常规测量
    ・环境限制物质测量软件 Ver.2(增加新功能)
    数据处理Microsoft® Excel、Microsoft® Word
    使用电源AC100~240V ±10% 单相
    附件样品杯2种(液体样品和微小样品用)
    选购项・薄膜FP软件
    ・薄膜标准曲线软件
    ・能谱匹配(已登陆的标准物质能谱的比较)
    ・环境限制物质测量软件 Ver.1
    ・各种标准物质(各种环境管制用标准物质,无铅焊锡标准物质,无铅焊锡箔标准物质)
    ・警示灯
    ・打印机