台式 XRF 超轻元素版 E3XLE

Epsilon 3XLE 是一种台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪，用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活，是多种行业和应用的理想选择。激发和探测技术的最新进步为该仪器提供了技术支持，从而帮助它提供了卓越的分析性能。

超越您的期望

√确保 X 射线安全

√通过智能激发和探测技术实现的高灵敏度

√卓越的分析性能 (C – Am)

√Omnian（半定量分析）、FingerPrinting 和监管合规性模块

最新发展

Epsilon 3 XLE 仪器将最新的激发和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、最新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。

合规就绪性

Epsilon 3 XLE 符合 ASTM、ISO 和 DIN 等国际标准的要求并受到帕纳科全球销售和服务专家网络的支持。对于多种行业和应用（包括 RoHS 和 WEEE）来说，它是可取代分析方法的、经济且可行的备选方案。

Epsilon 3XLE

Epsilon 3XLE 一种能量色散 X 射线荧光光谱仪，可对从 C 到 Am 的元素（浓度从 ppm 到 100%）进行分析。将 Omnian 用于半定量分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。用户还可使用Enhanced Data Security以满足 FDA 21 CFR Part 11 等法规要求。

Epsilon 3XLE

Epsilon 3XLE 台式 X 射线荧光光谱仪可以处理类型广泛的样品，可进行从 C 到 Am 的元素分析。可以测量的样品类型包括：固体，压缩粉末，疏松粉末，液体，熔片，浆类样品，颗粒，滤光片，薄膜和镀层。在完全安全的条件下测量未经制备的样品、体积较大或形状不规则的样品，避免高能 X 射线工作在开放状态。具有非破坏性的定量分析功能，广泛的分析含量范围（ppm-%），重量从几毫克到更大的块状样品不等。这使得 Epsilon 3X 台式 X 射线荧光光谱仪成为一款经济实惠，高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。Epsilon 3X 可应用于各种各样的行业，包括：水泥生产，采矿，选矿，炼铁，炼钢和有色金属，石油石化，聚合物及相关行业，玻璃生产，取证，医药，保健品，环保，食品和化妆品等。