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天瑞仪器EDX600 x荧光分析仪

仪器编号
EDX600
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 重复性
    0.1%(主元素含量大于96%以上样品的RSD值)
  • 分析含量范围
    ppm--99.9%
  • 元素分析范围
    钾(K)--铀(U)
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    天瑞仪器
    仪器介绍

    仪器介绍

             EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
             EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。

    性能特点

    专业贵金属检测、镀层厚度检测。
    智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序。

    技术指标

    元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
    测量对象:固体、液体、粉末
    分析检出限可达:ppm。
    分析含量一般为:ppm到99.9%。

    标准配置

    单样品腔。
    正比计数盒探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    外观尺寸: 430×380×355mm 
    样品腔尺寸:306×260×78mm 
    重量:30kg

    应用领域

    黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
    金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。