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仪器简介：

EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。

技术参数：

主要规格
测定原理——X射线荧光分析法
测定方法以——能量色散型
测定对象——固体、液体、粉状
测定范围——13Ai～92U
样品室尺寸——最大W370mm*D320mm*H155mm
X射线发生部
X射线管——Rh靶
电压——5—50KV
电流——1-1000uA
冷却方式——风冷（附风扇）
照射面积——3、5、10mmю；自动交换
1次滤光片——5种+OPEN自动交换
检测器
类型——Si-PIN半导体检测器
制冷方式——电子制冷
计数方式——数字滤光片计数处理
样品室
测定环境——大气
样品观察——半导体照相机
数据处理部
主机——IBM PC/AT互换机
内存——512MB以上
HDD——40GB以上
分辨率——1024*768点以上
打印机——彩色喷墨打印机
CD——CD-ROM驱动
OS——WindowsVista
软件
筛选分析——简单操作软件
定性分析——测定●解析软件
定量分析——工作曲线
应用性——自动校正功能（能量校正、半峰宽校正）
其他——装置状态监视楞能
分析结果建表功能
分析结果报告书创建功能
环境设置
                         性能保证范围
温度条件——10℃～30℃（温度变化在2℃以内）
湿度条件——40%～70%（不结露）
电源——AV100v～240v±，2A，带地线插座
外围设备（打印机、PC、显示器等）的电源需要另行配备

主要特点：

深入浅出
●利用【筛选分析】画面，操作简单方便
●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
装备所有必要功能
●标准装备了Rosh/ELV分析所需的必要功能
●拥有大容量样品室，因此可以直接测定大型样品
使Rosh/ELV的筛选更简单
●日常维护量减少（无需液氮）
●配备保护功能，限制条件或数据的变更
●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义