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台式高清X射线荧光光谱仪

仪器编号
HD Prime
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 重复性
    1ppm
  • 能量分辨率
    最大50Kv
  • 分析含量范围
    小于5000ppm
  • 元素分析范围
    Pb,Sb,As,Ba,Cd,Cr,Hg,Se,Br,Cl
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    XOS
    仪器介绍

    产品名称:台式高清X射线荧光光谱仪
    产品型号:HD Prime
    产品产地:美国
     
    工作原理:
    HD Prime采用XOS专利的高清晰光谱技术—双弯晶面 (DCC)反射镜,确保了测量的精确性和准确性。多个DCC透镜截获来自X光管的X白光束,并选定几个不同能量的光束,聚焦成很强的束斑,打在被测样品表面。HD光谱分析仪可从低能到高能范围内选择单色激发束,使用户能分别定量分析涂层和基底内有毒元素的成份。HD光谱分析仪采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音,从而大大改善元素探测极限。由于这种技术采用聚焦束激发样品,对于直径为1mm的样品分析面积,其灵敏度远远高于采用准直器来减小束斑的分析仪。
     
    仪器应用:
     

    • 玩具和儿童产品中多种有毒元素测量,符合CPSIA规定的要求

    • 快速准确地定性定量分析有毒元素

    • 使用场合:工厂的生产线上和实验室,第三方检测实验室,零售商,检测部门

    • 符合ASTM F2853和F2617标准

     
    仪器性能:
     

    • 测定有毒元素(Pb,Sb,As,Ba, Cd,Cr,Hg,Se,Br 和 Cl)

    • HD Prime可分别测出产品涂层和基材中有毒元素的成份

    • 直径为1 mm的小面积分析, 能检测不规则形状样品

    • 使用方便, 可供工厂, 实验室使用, 只需短至2小时的培训

    • 不需要样品前处理: 无须剥离和浸煮涂层, 不破坏产品结构

    • 定性检测模式, 提供有毒元素快速检测

    • 定量检测模式: 精确地测量涂层和基底材料中的元素成分

     
    检测极限:


    LOD in ppm – 3 s Pb Cd Cr As Br Sb Se Hg Ba Cl
    塑料基底 8 2 2 8 1 5 1 1 100 100*
    PVC基底 1 2 5 1 1 5 1 2 100 N/A
    塑料上涂层 5 10* 15 5 5 15* 5 8 200 150*
    金属基底 10 5 30 10 N/A 10 5 10 200 N/A
    金属上涂层 8 10* 15 8 5 15* 5 10 200 150*

    * 较长的测量时间
     
    技术规格:敬请来电咨询