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EDAX Orbis 微束X射线荧光能谱仪(Micro XRF)

Orbis可以对各种类型、尺寸的样品进行先进的无损元素分析，不需样品制备，不需涂层。它可以对多元素进行快速同步的X射线检测，含量灵敏度从百万分之几到100%。用户可以对小样品进行元素分析，如颗粒，碎片和夹杂物，也可以对大样品进行自动多点和成像分析。

Orbis是一款台式仪器，可以在空气或低真空条件下，测量从Na到BK的元素。因为X射线具有穿透力和较大的光斑，Orbis比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品。Orbis Vision 软件强大易用，可提供精确的元素分析。

创新的X射线光学/视频器件几何设计

Orbis安装了垂直于样品的先进的X射线光学器件和高质量的视频像机，适合更大范围的样品形状。这种创新的设计提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力。由于X射线束的阻挡而导致的错误测量，可以很容易地被检测到。如果相机的视野受到阻挡，X射线也会受到阻挡。当测量有地形的样品时，可以消除X射线束的阴影。此外，在仪器设计的工作距离外，定性分析更容易。

广泛的应用

Orbis适合各种应用，包括刑事取证、工业质量控制和无损检测，还有材料、电子和地质样品分析。

Orbis 型号

Orbis有两个型号：Orbis SDD 和 Orbis PC SDD。两个型号都使用Orbis Vision 软件，都有多个选项，覆盖广泛的需要高精度非破坏性元素分析的应用。

 Orbis SDD X射线荧光能谱仪

Orbis SDD X射线荧光能谱仪非常适合需要分析大颗粒或大特征的应用，例如刑事取证和工业质量控制。该仪器配备行业领先的电制冷探测器（SDD）和10倍/100倍彩色摄像机，配备了300μM单毛细管光学器件，入射束过滤系统，精密电动XYZ样品台和DPP分析器。

Orbis的设计消除了样品地形阻碍X射线束带来的不正确样品分析。

标准配置：

● 铑管（50kV，50W）

● 300μM单毛细管光学器件

● 自动入射束滤光系统（打开位置，6个过滤器，快门）

● 双CCD相机：10×，彩色；100x，彩色

● 先进的30mm2电制冷探测器（SDD）

● 精密电动XYZ样品台

● 样品室：真空或空气

● 电子数字信号分析仪

● 操作软件：自动分析和定量程序，包括：

　1. 有标样或无标样基本参数分析

　2. 使用基本参数分析在轻元素矩阵中进行痕量元素分析

　3. 使用标样校准进行半经验分析

选项：

● 样品室视窗（124mm × 124mm可视范围）

● 先进的50mm2硅漂移探测器（SDD）

● 钼管（50kV，50W）

● 100μM单毛细管光学器件（替代300μM单毛细管光学器件）

● 与单毛细管光学器件连接的自动准直仪（1 mm和2 mm），通过软件控制选择

● 软件：谱面分布，图像处理，线扫描，涂层分析，谱匹配，合金识别和离线数据处理软件

 Orbis PC SDD X射线荧光能谱仪

Orbis PC SDD X射线荧光能谱仪是Orbis SDD的升级版，非常适合分析小样本或快速测量。该仪器配备先进的电制冷探测器（SDD），带3倍数码变焦的增强彩色摄像机，和一个30微米的多毛细管光学器件。Orbis PC SDD的样品定位器采用升级的XYZ样平台，具有更高的定位精度。

标准配置：

● 铑管（50kV，50W）

● 30μM超高强度多毛细管光学器件(FWHM @ MoKα)

● 自动入射束滤光系统（打开位置，6个过滤器，快门）

● 双CCD相机：10×，彩色；75×，彩色，带3×数字变焦

● 先进的30mm2硅漂移探测器（SDD），无需液氮致冷

● 高精密电脑控制XYZ样品台

● 样品室：真空或空气

● 电子数字信号分析仪

● 操作软件：自动分析和定量程序，包括：

　1. 有标样或无标样基本参数分析

　2. 使用基本参数分析在轻元素矩阵中进行痕量元素分析

　3. 使用标样校准进行半经验分析

选项：

● 样品室视窗（124mm × 124mm可视范围）

● 先进的50 mm2硅漂移探测器（SDD）

● 钼管（50kV，50W）

● 与单毛细管光学器件连接的自动准直仪（1 mm和2 mm），通过软件控制选择

● 软件：谱面分布，图像处理，线扫描，涂层分析，谱匹配，合金识别和离线数据处理软件

骨化石Ca-P-Si元素面分布图，使用红、绿和蓝色混合器创建覆盖。