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韩国PCB镀层厚度荧光光谱仪

仪器编号
iEDX-150WT
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 行业专用类型
    电子产品
  • 重复性
    0.1%
  • 能量分辨率
    125电子伏特
  • 分析含量范围
    高精度分析
  • 元素分析范围
    铝(Al)到铀(U)
  • 仪器种类
    台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
  • 生产厂家
    ISP
    仪器介绍

     iEDX-150WT

    是韩国原装进口设备,采用开放式样品腔。专业用于电镀镀层分析、PCB镀层厚度分析,可同时分析镀层中的成分比例。镀层厚度分析软件

    采用业界最先进的基本参数法(FP

    可以镀液进行定量分析

    可分析1-6层、以及合金镀层成分

    可同时分析20种元素,频谱比较

    减法运算和配给

    智能背景滤波器

    有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量

    可制作多条工作曲线,各个曲线

    测试条件独立,方便测试

     

    MTFFP软件主界面

    最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在+/-0.02%,贵金属(8-24Karat)分析精度可达+/-0.05kt

     

    对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。


    技术指标:
    1、多镀层,1-6层;
    2、超高测试精度;
    3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
    4、测量时间:5-60秒;
    5SDD探测器,能量分辨率为125电子伏特;
    6、微焦X射线管50KV/1mA
    7、焦斑尺寸75um
    87个准直器及6个滤光片自动切换;
    9XYZ三维移动平台,极限荷载为5KG
    10、高清CCD摄像头,确监控位置;
    11、多变量非线性去卷积曲线拟合;
    12、高性能FP/MLSQ分析;
    13、平台尺寸:700×580×25mm
    14、仪器尺寸:475×787×375mm
    15、加入安全防射线光闸,样品室门开闭传感器;
    16、可提供对样品的自动和编程控制,多点自动测量。


    图谱界面:

    1、软件支持无标样分析;

    2、超大分析平台;

    3、可自动连续多点分析;

    4、集成了镀层界面和合金成分分析界面;

    5、采用先进的多种光谱拟合分析处理技术。

     

    分析报告结果:

    1、直接打印分析报告;

    2、报告可转换为PDFEXCELHTML格式