产品简介：

    FN-200T镀层厚度分析仪采用X射线荧光光谱仪原理，非真空样品腔设计；专业用于金属电镀镀层分析；可同时分析镀层中的合金成分比例并可选装RoHS分析系统。

应用领域：

• 金属电镀镀层分析领域

仪器特点:

• 软件支持无标样分析

• 超大分析平台和样品腔

• 集成了镀层界面和合金成分分析界面

• 采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

• 分析精准度可达到0.01μm

技术指标：

• 多镀层：1-6层

• 测试精度：0.01μm

• 元素分析范围：从铝（Al）到铀(U)

• 测量时间：10-60s

• Si-PIN探测器，能量分辨率：149电子伏特

• 微焦X射线管：50KV\1mA，钨靶

• 焦斑X射线：75μm

• 7个准直器及6个滤光片自动切换

• XYZ三维移动平台，最大荷载：5kg

• 高清CCD摄像头，精准监控位置

• 多变量非线性去卷积曲线拟合

• 高性能FP\MLSQ分析

• 平台移动范围：300*300*25mm

• 仪器尺寸：525*637*484mm

分析结果报告：

• 直接打印分析报告

• 报告可转化成PDF,EXCEL,HTML格式