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OLYMPUS DELTA -2000系列手持式(金属合金检测)

仪器编号
DELTA -2000系列
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 行业专用类型
    通用
  • 重复性
    0.1%
  • 能量分辨率
    .160ev
  • 分析含量范围
    .1ppm~99.99%
  • 元素分析范围
    .Mg(12)~U(92)
  • 生产厂家
    奥林巴斯
    仪器介绍


    特点说明:
        DELTA提升了比以往更高阶的硬件规格,除了更符合人体工学的外观设计外;较大的输出功率及大面积的检测器,增加了仪器对各元素的灵敏度,并大幅降低了检测下限及测试时间。
    除此之外,防水防尘的强韧设计,更能因应不同环境及气候下的严苛测试;对于现地测试或环境评估,都能提供更快、更精准及更稳定的测试数据。
       可应用于有害元素筛选、合金型号辨识、金属元素成分分析、贵金属分析、分析土壤/环境重金属分析、油品分析、矿物分析、PMI快速型号分析及回收物分析等各领域元素。
    ■开机时间最短,测试速度快,改善反应速度。
    ■开机状况下换电池,不需关机,不需重新初始化,不需重新校验


     ■DELTA-2000-Alloy 金属合金机型,适用于金属材质分析,可以在10秒内快速判别金属管件零件材质型号,如SS 316、SS 304、SS 406…等内建将近400种常见合金数据库,包含不锈钢、铜合金、镍合金、铬合金… 并可依据客户常用金属种类,自行键入更多金属数据库。
     

    ■DELTA-2000-Alloy贵金属机型,适用于珠宝、黄金、白金的贵金属分析。
    可测试贵金属如金(Au),银(Ag),白金(Pt),铑(Rh),铱(Ir),锗(Ge)… 等24种元素。
    可快速在10秒钟内正确测试出各种贵金属的正确比例。

    ■应用模式Delta Models:

    »金属检测模式Alloy Analysis
    »矿物检测模式Mining (选配)
    »土壤检测模式Soil Analysis (选配)
    »消费品&塑料检测模式Consumer Goods (选配)


    产品特色:
    1.全世界最大百积SDD检测器
    2.适合分析轻金属、轻元素,如铝合金、镁合金、轻元素浓度
    3.快速分析铝镁合金型号,2系列、5系列、6系列、7系列铝合金
    4.Mg的检测下限可到0.16%(60sec),0.6%(5sec)

     

     基本规格


    Premium

    Professional

    Classic Plus

    重量:

    3.25 lbs (<1.5 Kg)

    尺寸:

    10.25 x 9.5 x 3.5 in (260 x 240 x 90 mm)

    靶材规格:

    4W Rh Au阳极靶材

    (依应用不同选用)

    4W AuAg阳极靶材(依应用不同选用)

    4W Au阳极靶材

    检测器:

     25 mm2 SDD   (Silicon Drift Detector)检测器

    10 mm2 SDD

    Silicon Drift Detector

    13 mm2 SiPIN

    检测器

    环境作业温度:

    -10 ~ 50

    分析应用范围:

    合金及矿物模式

    Mg以上;

    土壤模式:P 以上;

    塑料模式:Cl 以上

    合金及矿物模式:

    Mg以上;

    土壤模式:P 以上;

    塑料模式:Cl 以上

    合金及矿物模式:

    Ti以上;

    土壤模式:P 以上;

    塑料模式:Cl 以上

    处理器规格:

    530 MHz CPU, 128M RAM, 500 MHz Dual core DSP

    创新电子设计:

    内建加速器及气压计,能自动更正海平面的高度气压参数,校正对轻元素的测试。

    电源:

    可更换锂电池;并提供不断电可更换电池系统。

    显示器:

    32bit Color QVGA 分辨率;360°可视角度触控屏幕;2.25 x 2.9 in (57 x 73 mm)

    数据储存:

    2 GB MicroSD,可储存150,000笔数据

    数据传输:

    提供USB及蓝芽系统

     

    RoHS/WEEE

    (1)满足欧盟RoHS指令,以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
    (2)针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准,利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法,满足厂商简易的需求

    电子产业

    应用于无卤素材料分析(Halogen Free)

    电子产业

    应用于无卤素材料分析(Halogen Free), 加装配件可再做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析