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XRD-XRF集成分析仪

仪器编号
BTX-Profiler
照片
类型名称
X射线衍射仪(XRD)
仪器参数
  • 角度偏差
    不超过0.001
  • 重复性
    0.001°
  • 最小步进角度
    0.001°
  • 发生器功率
    10w
  • 仪器种类
    多晶衍射仪
  • 生产厂家
    奥林巴斯
    仪器介绍

        BTX-profiler 为奥林巴斯旗下全新一代XRD与XRF分析仪,它集成了原奥林巴斯旗下便携式XRF及便携式XRD的仪器功能,可以同步实现待测样品的元素信息(Mg-U)的定性定量分析(XRF)及物相晶体结构分析(XRD),具有多重信息获取、快速、省时、低成本的特点。
        BTX-Profiler获得了美国宇航局专利,是基于美国火星探测的目标需要而开发,成功搭载于好奇号火星探测器,实现了火星土壤地质、岩石矿物标本的元素分析及矿物成分分析。
        BTX-Profiler内置两个X射线管、两个探测器,独立的结构设计,可以轻松地实现XRF与XRD分析而不互相干扰,保证数据质量的可靠性。
        BTX-Profiler具有质量轻、体积小的特点,无需建立专门的实验室,更可实现现场检测分析,提供实时的元素信息、物相结构信息等。
        BTX-Profiler包括两套系统:单样品仓系统和旋转多样品仓系统,旋转多样品仓系统可一次性装填20个样品,实现样品的次第分析。
        单样品仓系统:体积:49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm,质量:23.13kg
        旋转多样品仓系统:体积:67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm,质量:32.66 Kg
        更多详情,请致电奥林巴斯伊诺斯中国服务中心,电话:0755-27480002