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上照射式 X射线荧光光谱仪

仪器编号
ZSXPrimusⅡ
照片
类型名称
X荧光光谱、XRF(波长色散型X荧光光谱仪)
仪器参数
  • 产地类别
    进口仪器
  • 生产厂家
    暂无
    仪器介绍
    仪器简介:

    PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析
    48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析.
    软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户.
    维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.



    技术参数:

    硬件:
    对应超轻元素的X射线光管
    采用4kW、30µm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。
    采用新型光学系统
    采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。

    48样品交换器
    实现平台式共享化,最多可放置48个样品。
    多样品交换器实现了省空间。

    1次X射线滤光片
    除去X射线光管的特征X射线光谱,
    在减低背景干扰方面发挥威力。

    双泵、双真空系统
    采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。
    防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统
    的结构设计,样品交换实现更高效率。

    粉末附件
    电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入
    真空泵内。

    定点分析
    100µm的Mapping分辨率。可在CCD图像
    上指定点、区域、线。定点最小直径500µm。

    采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台)
    节能、节省空间
    节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30以下)
    PR气体流量减少(5mL/min)
    省空间
    采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。
    便于维护
    PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗

    软件
    新版SQX软件
    在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。
    委托分析EZ扫描
    采用对话框形式设定,可进行SQX分析。
    定角测试模式
    微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。

    应用模板
    各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。

    散射线FP法
    不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。

    流程条
    测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。

    其它特点的软件功能
     SQX分析功能
     Mapping数据库
     材质辨别
     理论重叠校正
     自动程序运转
     校正投入量计算

    应用软件包
    应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品)
    CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。



    主要特点:

    特点:
    轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高
    配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
    重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统
    高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100µm
    完美的无标样分析-最新的SQX软件
    仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间