M470微区扫描探针电化学工作站包含了以下9项技术

- 扫描电化学显微镜(SECM)

- 交流扫描电化学显微镜(ac-SECM)

- 间歇接触扫描电化学显微镜(ic-SECM)
- 扫描振动电极测试(SVET)
- 扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP)
- 微区电化学阻抗测试(LEIS)
- 扫描电解液微滴测试(SDS)

- 交流扫描电解液微滴测试(ac-SDS)
- 非触式微区形貌测试(OSP)