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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪

仪器编号
X-Strata980
类型名称
X射线荧光光谱仪
生产厂家
牛津仪器有限公司
仪器介绍
多功能X荧光光谱仪（痕量元素分析+ELV（ROSH）+镀层厚度测量） 应用于： -有害元素痕量分析 -焊料合金成分分析和镀层厚度测量 -电子产品中金和钯镀层的厚度测量 -五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量 -贵金属合金分析和牌号鉴定技术参数：请见样本主要特点：X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。 -25平方毫米PIN探测器 -100瓦X射线管 -多准直器配置 -扫描分析及元素分布成像功能 -灵活运用多种分析模型 -清晰显示样品合格/不合格 -超大样品舱 -同时分析元素含量和镀层厚度

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