激光粒度电位检测仪
- 仪器编号
- Nicomp 380 ZLS
- 类型名称
- 激光粒度仪、纳米粒度仪
- 仪器参数
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测量时间1min-10min分辨率1024个数据通道测量范围0.3nm-10μm重现性>99%分散方式湿法分散仪器种类动态光散射
- 生产厂家
- 美国PSS
- 仪器介绍
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Nicomp 380 激光粒度电位检测仪 采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围0.3nm – 10μm。粒度分析复合采用Gaussian单峰算法和拥有专利技术的NiComp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展Zeta电位等其它功能。
Nicomp 380 激光粒度电位检测仪
基本概述：
Nicomp 380 DLS是纳米粒径分析仪器，采用现在先进的动态光散射原理，利用专利的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供最好的分析技术。 测试范围：0.3 nm – 10μm。
产品介绍：
Nicomp 380 DLS 采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围 0.3 nm- 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。
激光粒度电位检测仪工作原理：
动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。
激光粒度电位检测仪 仪器参数：
粒径测量范围
粒度分析：0.3 nm - 10 μm
分析方法
粒度分析：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法
pH值范围
2 - 12
温度范围
0℃ - 90 ℃
检测角度（可选）
粒度分析：90°或 多角度（10°- 175°，可选配）
高浓度样品背散射
175°背散射
可用溶剂
水和绝大多数有机溶剂
样品池
4 mL（标准，石英玻璃或有机玻璃）；
500μL（高透光率微量样品池）
分析软件
Windows 运行环境，符合 21 CFR Part 11 规范分析软件
电压
220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz
外形尺寸
56 cm * 41 cm * 24cm
重量
约26kg（与配置有关）
激光粒度电位检测仪 配件：
大功率激光二极管
PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。
15mW, 35mW, 50mW, 100mW –波长为635nm 的红色二极管。
20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。
雪崩光电二极管检测器（APD Detector）
提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。
Zeta 电位模块
Zeta电位是确定交替系统稳定性的重要参数，决定粒子之间静电排斥力大小，从未影响粒子间的聚集作用及分散系的稳定。该模块使用电泳光散射（ELS）技术，通过测量带点粒子在外加电场中的移动速度，即电泳迁移率、推算出Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位测定的同机操作。
自动稀释系统模块
将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。
多角度检测系统模块
提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。
自动进样器
批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。
自动滴定模块
样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位
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