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SZ-100 纳米粒度/Zeta电位分析仪

仪器编号
SZ-100
照片
类型名称
激光粒度仪、纳米粒度仪
仪器参数
  • 仪器种类
    动态光散射
  • 生产厂家
    堀场
    仪器介绍
    仪器简介:

    SZ-100 是 HORIBA Scientific 最新推出的纳米粒子解析装置,可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子,并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。

    高灵敏度、高精度的测量
    全方位表征单一体系纳米尺度粒子
    完全解析纳米粒子的物质结构

    应用范围
    ● 陶瓷粒子 ● 金属纳米粒子 ● 碳黑 ● 制药 ● 病毒 ● 涂料
    ● 化妆品  ● 聚合物     ● 食品 ● CMP● 颜料、油墨

     

     



    技术参数:

    粒子直径测定
    ● 超宽动态光散射测量范围: 0.3nm~8000nm
    ●通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化。
    ●在单一纳米粒子专用光学系统中,采用更低杂散光90°检测光学系统。
    ●双光路系统(90°和173°)适用于更宽浓度范围的样品测量,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。

    Zeta电位测定
    ●通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池,可以测定仅100μL的样品。



    主要特点:

    ●超小体积设计
    ● 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。
    ●样品浓度从PPM到百分之几十,SZ-100都能在原液状态下取样和测定。
    ●HORIBA自主研发的微量电泳样品池, 可以测定仅100μL的Zeta电位。
    ●广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。
    ●操作简单,进样、设定参数后,只要按开始按钮即可得到测量结果。