南通菲希尔测试仪器有限公司校准实验室
联系方式
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- 地址
- 上海市普陀区真北路915号2208室
- 邮编
- 200333
- 联系人
- 蔡晓红
- 电话
- 021-32513131
- china@helmutfischer.com
- 传真
- 021-32513132
- 类型
- 未定义
- 企业类型
- 公司企业
- 专业领域
- CNAS认可的检测标准实验室
主要服务
X射线荧光镀层测厚仪，磁性、电涡流式覆层厚度测量仪
- 菲希尔FMP100/150系列 (FMP100/150)
- 菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪 (XDLM)
- 菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪 (XULM)
- 菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪 (XDLM-PCB 220)
- 菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪 (XDV-SDD)
- 日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪 (日立 FT110A)
- 菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪 (XDV-u)
- 菲希尔XAN500型便携式X射线荧光镀层测厚仪 (XAN500)
- 日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 (FT9500系列)
- 日立 FT150荧光X射线镀层膜厚测量仪 (FT150)
- 磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程 (JJG 818-2005)
- 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 (JB/T 8393-1996)
- 磁性和电涡流覆层厚度测量仪 (DB44/T 1207-2013)
- X射线荧光镀层测厚仪校准规范 (JJF 1306-2011)
- 电涡流式测厚仪(试行) (JJG 818-1993)
- 金属和非金属基材的非磁性金属覆层.覆层厚度测量.相敏涡流法 (BS EN ISO 21968-2005)
- 涂层厚度测量.测量镀层厚度的X 射线荧光法 (DIN 50987-1987)
- 非磁性电导基体金属上的非导体镀层.镀层厚度的测量.波幅灵敏涡流法 (BS EN ISO 2360-2003)
- 金属和有关覆层的试验方法.第3部分:测量非磁性金属基体上绝缘覆层厚度的涡流测量方法 (BS 5411 Pt.3-1976)
- 非磁性导电基体上非导体覆盖层.镀层厚度的测量.振幅灵敏性涡流法 (EN ISO 2360-2003)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测 (NIL PT-1472)
- 镀锌板镀层厚度的测定（X-射线荧光或辉光光谱法） (NIL PT-0120)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测(Fe/Zn) (NIL PT-1797)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测（Cu/Ni） (NIL PT-2530)
- 贵金属镀层厚度的X射线光谱检测（Au/Cu） (NIL PT-3587)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测（Fe/Zn-Ni或Fe/Zn） (NIL PT-2187)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测（Zn/Fe） (NIL PT-3588)
- 贵金属镀层厚度的X射线光谱检测（Cu/Au） (NIL PT-2186)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测（Zn/Fe） (NIL PT-3070)
- 金属镀层厚度的X射线光谱检测 (NIL MA339)