中国科学院半导体研究所元器件检测中心
联系方式
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- 地址
- 北京市海淀区清华东路甲35号
- 邮编
- 100083
- 联系人
- 方慧
- 电话
- 010-82304741
- fangh@semi.ac.cn
- 传真
- 010-82304791
- 类型
- 未定义
- 企业类型
- 科研机构
- 专业领域
- CNAS认可的检测标准实验室
主要服务
环境试验、可靠性试验和环境应力筛选试验
- LIMO高功率半导体激光器 (半导体激光器)
- 带光照恒温恒湿箱 (HPP750Life)
- 稳定性测试箱 (HPP110/260/750)
- SU250C高低温（湿热）试验箱 (SU250C)
- 阿泰可CH/SU160C高低温试验箱 (CH/SU160C)
- Servotough laser 2900系列激光气体分析仪 (laser 2900)
- 三思纵横DTM1000塑料落锤式冲击试验机 (DTM1000系列)
- Tecan Cavro Omni Flex高可靠性专业液体处理OEM自动化设备 (Omni Flex)
- FBGA光纤光栅传感解调模块 (FBGA)
- 贝克曼库尔特MET ONE 6000远程空气颗粒计数器 (MET ONE 6000)
- 电力半导体器件(高温阻断电压应力)可靠性指标考核方法 (JB/DQ 2647-1990)
- 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） (GB/T 4937.4-2012)
- 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 (T/IAWBS 004-2017)
- 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试 (EN 60749-30-2005)
- 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试 (NF C96-022-30-2005)
- 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 (GB/T 4937.30-2018)
- 电学元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型 (GB/T 7289-2017)
- 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法 (T/IAWBS 004—2017)
- 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试之前非气密表面安装器件的预调试 (BS EN 60749-30-2005)
- 半导体分立器件接收和可靠性 (GB 4938-1985)