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二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质

样品批号
GBW13972
制备单位
中国计量科学研究院
样品形态(原始)
固态
尺寸规格
有证书，1片，标准值：76.80nm；扩展不确定度：1.3nm （k=2）
样品用途
校准仪器和装置；评价方法；工作标准；质量保证/质量控制；其他
定值单位
中国计量科学研究院
参数 标准值 不确定度 单位
二氧化硅纳米薄膜厚度 76.8 1.3 nm

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