你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
半导体X射线能谱仪的测试方法
标准编号
GB/T 11685-1989
中图分类号
F80
ICS分类号
17.240
状态
作废
标准类别
国家标准
发布日期
1989-10-14
实施日期
1990-05-01
相似标准
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
(GB/T 11685-2003)
半导体探测器X射线能谱仪通则
(GB/T 20726-2006)
用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
(GB/T 11713-1989)
X射线光电子能谱仪检定方法
(GB/T 25184-2010)
化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
(GB/T 8759-1988)
用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
(GB 11713-1989)
半导体管特性图示仪通用规范
(GB/T 13973-2012)
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
(GB/T 26070-2010)
BJ2970型大功率半导体三极管tf测试仪(试行)
(JJG (电子) 04023-1989)
医用诊断X射线机曝光时间测试方法
(GB/T 11757-1989)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: