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半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

标准编号
DB52/T 1104-2016
中图分类号
L 40
ICS分类号
31.080.01
发布单位
贵州省质量技术监督局
状态
现行
标准类别
行业标准
发布日期
2016-04-01
实施日期
2016-10-01
摘要
本标准规定了具有单一热流路径的半导体器件结-壳热阻Rth(J-C)的瞬态测试方法。 本标准适用于具有单一热流路径的半导体器件。

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