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纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

标准编号
GB/T 23413-2009
中图分类号
N78
ICS分类号
19.100
发布单位
国家标准化管理委员会
状态
现行
标准类别
国家标准
发布日期
2009-04-01
实施日期
2009-12-01
摘要
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

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