你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率
标准编号
GB/T 32999-2016
中图分类号
G04
ICS分类号
71.040.40
发布单位
国家标准化管理委员会
状态
现行
标准类别
国家标准
发布日期
2016-10-13
实施日期
2017-09-01
摘要
本标准规定了利用俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)测定深度剖析离子溅射速率的方法,试样的离子溅射面积范围为0.4 mm?2~3.0 mm?2。本标准只适用于横向均匀的体相材料或单层材料,其离子溅射速率由溅射深度与溅射时间确定,溅射深度通过机械探针轮廓仪测得。?本标准提供了一种将深度剖析中的离子溅射时间转换为溅射深度的方法,并假设溅射速率恒定。本方法不是为扫描探针显微系统设计的,因此不能用扫描探针显微系统评价该方法。本方法不适用于溅射面积小于0.4 mm?2的情况,也不适用于溅射诱导的表面粗糙度与被测区域的溅射深度相比较明显的情况。?
相似标准
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
(GB/T 32495-2016)
表面化学分析.深度剖面.溅射速率测量:使用机械光针式轮廓仪的网眼复制法
(ISO/TR 22335-2007)
俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
(SJ/T 10457-1993)
俄歇电子能谱分析方法通则
(GB/T 26533-2011)
扫描探针显微镜漂移速率测量方法
(GB/T 29190-2012)
扫描探针显微镜校准规范
(JJF 1351-2012)
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
(GB/T 28632-2012)
表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
(GB/Z 32494-2016)
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
(GB/T 29505-2013)
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
(GB/T 28893-2012)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: