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微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

标准编号
GB/T 34002-2017
中图分类号
G04
ICS分类号
71.040.40
发布单位
国家标准化管理委员会
状态
现行
标准类别
国家标准
发布日期
2017-07-12
实施日期
2018-06-01
摘要
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感

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