你好，欢迎来到试验技术专业知识服务系统

半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

标准编号
GB/T 4937.3-2012
中图分类号
L40
ICS分类号
31.080.01
发布单位
工业和信息化部（电子）
状态
现行
标准类别
国家标准
发布日期
2012-11-05
实施日期
2013-02-15
摘要
T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

相似标准