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半导体集成电路 串行外设接口测试方法

标准编号
SJ/T 11702-2018
中图分类号
L56
ICS分类号
31.2
发布单位
工业和信息化部
状态
现行
标准类别
行业标准
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
摘要
本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。 本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。

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