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半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

标准编号
SJ/T 11706-2018
中图分类号
L55
ICS分类号
31.2
发布单位
工业和信息化部
状态
现行
标准类别
行业标准
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
摘要
本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。

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