你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
镀层厚度检验.显微镜测量镀层厚度.用切片法
标准编号
DIN 50950-1984
中图分类号
A29
ICS分类号
5980
发布单位
德国标准化学会(DIN)
状态
作废
标准类别
国际标准
发布日期
1984-10-01
相似标准
金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
(DIN EN ISO 1463-2004)
金属和氧化物镀层.镀层厚度的测量.显微镜法
(NF A91-110-2004)
涂层厚度测量.通过镀层材料的溶解.用重力测量法测定铁材料上的锌和锡层表面厚度
(DIN 50988 T.1-1984)
涂层厚度测量.通过镀层材料的溶解.用重力测量法测定铁材料上的锌和锡层表面厚度
(DIN 50988-1-1984)
涂层厚度测量.测量镀层厚度的X 射线荧光法
(DIN 50987-1987)
纺织品的试验.棉纤维的成熟情况.百分比成熟度的测定.用偏光显微镜的显微镜检验法
(DIN 53943-3-1983)
半导体工艺材料的检验.溶液内粒子解析法.显微镜粒子测定
(DIN 50452-1-1988)
电子元器件质量评定协调体系;基本规范;用扫描电子显微镜检验半导体片
(DIN 45903-1985)
光学和光学仪器.显微镜.镜盖.第1部分:尺寸公差、厚度和光学性能
(DIN ISO 8255-1-2003)
半导体工艺材料的检验.第3部分:半导体切片几何尺寸的测量.第3部分:用多射线干涉法测定抛光切片的平面偏差
(DIN 50441-3-1985)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: