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半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化

标准编号
DIN 50435-1988
中图分类号
H82
ICS分类号
29_045
发布单位
德国标准化学会(DE-DIN)
状态
作废
标准类别
国际标准
发布日期
1988-05-01

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