你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005
标准编号
NF C86-505-1986
中图分类号
L54
ICS分类号
31_260
发布单位
法国标准化协会(AFNOR)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
1986-07-01
实施日期
1986-07-05
相似标准
半导体器件.电子元件统一质量评审体系.光导纤维用插脚式光电二极管.空白详细规范 .规范CECC 20 006
(NF C86-506-1986)
半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003
(NF C86-503-1986)
半导体器件.电子器件质量评估协调体系.带光电晶体管输出的特定环境温度光电耦合器.空白详细规范
(NF C86-504-1988)
半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范
(NF C86-010-1986)
电子元器件质量评固协调体系.印刷电路板用双部件和边缘插座.分规范和空白详细规范 CECC 75 100 和 CECC 75 101
(NF C83-401-1986)
电子元器件质量评估协调体系.集成电压比较仪.空白详细规范
(NF C86-902-1986)
半导体器件.电子元件统一质量评审体系.带薄膜电阻器的电路.空白详细规范.规范 CECC 64 100
(NF C86-432-1988)
半导体器件.分立器件和集成电路.第3部分:信号(包括开关)和整流二极管
(NF C96-003-1986)
电子元器件质量评估协调体系.分规范.空白详细规范.钽电容器.CECC 30 200、CECC 30 201、CECC 30 202 规范
(NF C83-112-1988)
电子元器件质量评定协调系统.空白详细规范.光电二极管、光电二极管阵列(非光纤用)
(BS EN 120005-1986)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: