你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法(IEC 62007-2-2009).德文版本EN 62007-2-2009
标准编号
DIN EN 62007-2-2009
中图分类号
M33
ICS分类号
31_260;33_180_99
发布单位
德国标准化学会(DE-DIN)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2009-09-01
实施日期
2009-09-01
相似标准
光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法(IEC 62007-2-2009).德文版本EN 62007-2-2009
(EN 62007-2-2009)
光纤系统应用的半导体光电装置.第1部分:基本速率和特性用规范模板(IEC 62007-1-2008).德文版本EN 62007-1-2009
(DIN EN 62007-1-2009)
光纤系统用半导体光电器件.测量方法
(BS EN 62007-2-2009)
半导体器件的机械标准化.第6部分:平面式安装半导体器件外壳外形图绘制的一般规则(IEC 60191-6-2009).德文版本EN 60191-6-2009
(DIN EN 60191-6-2010)
半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002
(DIN EN 60747-5-3-2003)
光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量规程.第3-6部分:检查和测量.回波损耗(IEC 61300-3-6-2008).德文版本EN 61300-3-6:2009
(DIN EN 61300-3-6-2009)
半导体器件. 微电机设备. 第6部分: 薄膜材料的轴向疲劳试验方法(IEC 62047-6: 2009); 德文版本EN 62047-6: 2010
(DIN EN 62047-6-2010)
半导体器件的机械标准化.第6-19部分:高温和最大容许弯曲的包装弯曲测量方法(IEC 60191-6-19-2010).德文版本EN 60191-6-19-2010
(DIN EN 60191-6-19-2010)
光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-2部分:检查和测量.单模光纤器件中的偏振依赖性损耗(IEC 61300-3-2-2009).德文版本EN 61300-3-2-2009
(DIN EN 61300-3-2-2009)
光纤.第1-47部分:测量方法和试验规程.微弯曲度损耗(IEC 60793-1-47-2009).德文版本EN 60793-1-47-2009
(DIN EN 60793-1-47-2010)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: