你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
表面化学分析.辉光放电质谱测定法(GD-MS).使用介绍
标准编号
ISO/TS 15338-2009
中图分类号
G04
ICS分类号
71_040_40;71_040_50
发布单位
国际标准化组织(IX-ISO)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2009-04-01
相似标准
表面化学分析.辉光放电质谱法(GD-MS).用法介绍
(BS DD ISO/TS 15338-2009)
表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
(ISO 14707-2000)
表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
(ISO 16962-2005)
表面化学分析.次级离子质谱测定法.使用多δ层参考材料的硅深度校准方法
(ISO 23812-2009)
表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性
(ISO 23830-2008)
表面化学分析.辉光放电光发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
(NF X21-053-2006)
表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
(ISO 14706-2000)
表面化学分析.样品处理前分析
(ISO 18117-2009)
表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
(JIS K0144-2001)
耐火材料的化学分析.湿化学分析、原子吸收光谱测定法(AAS)和感应耦合等离子原子发射光谱(ICP-AES)法的一般要求
(ISO 26845-2008)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: