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半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法

标准编号
SJ 2215.5-1982
中图分类号
M01
ICS分类号
31.080.10
状态
作废
标准类别
国家标准
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01

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