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光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义

标准编号
JIS B0091-2010
中图分类号
N30
ICS分类号
37_020
发布单位
日本工业标准调查会(JP-JISC)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2010-05-20

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