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无损检验.用存储荧光成像板的工业计算辐射摄影术.用X射线和γ射线检验金属材料的一般原则

标准编号
BS EN 14784-2-2005
中图分类号
H26
ICS分类号
19_100
发布单位
英国标准学会(BSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2005-09-27
实施日期
2005-09-27

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