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测量光纤带尺寸
标准编号
ANSI/TIA-455-123-2000
中图分类号
M33
ICS分类号
33_180_01
发布单位
美国国家标准学会(ANSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2000-01-01
相似标准
光纤带尺寸测量
(ANSI/TIA/EIA 455-123-2000)
光纤扭曲度测量方法
(ANSI/TIA-455-111-2000)
光纤涂层的几何形状测量.FOTP195
(ANSI/TIA-455-195-2000)
光纤卷缩度的测量程序
(ANSI/TIA/EIA 455-111-2000)
多模光纤带宽测量
(ANSI/TIA-455-204-2000)
利用光时域反射计(OTDR)进行光纤或光缆的衰减测量
(ANSI/TIA-455-61A-2000)
多模光纤带宽测量
(ANSI/TIA/EIA 455-204-2000)
用OTDR测量光纤或电缆衰减
(ANSI/TIA/EIA 455-61A-2000)
光纤涂层的几何量测量.FOTP195
(ANSI/TIA/EIA 455-195-2000)
使用光时域反射计(OTDR)测量光纤点缺陷
(ANSI/TIA-455-59-A-2000)
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