你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
氢对光缆的影响
标准编号
ANSI/TIA-455-183-2000
中图分类号
M33
ICS分类号
33_180_20
发布单位
美国国家标准学会(ANSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2000-01-01
相似标准
氢对光缆的影响
(ANSI/TIA/EIA 455-183-2000)
光纤和光缆的绝对光功率试验
(ANSI/TIA-455-95A-2000)
温度循环对光纤、光缆和其他无源光纤元件影响的测量程序
(ANSI/EIA/TIA 455-3A-1989)
利用光时域反射计(OTDR)进行光纤或光缆的衰减测量
(ANSI/TIA-455-61A-2000)
填充式纤维光缆用流体化合物 (滴)
(ANSI/TIA/EIA 455-81-B-2000)
利用OTDR进行纤维和光缆长度测量
(ANSI/TIA/EIA 455-60-A-2000)
光纤和电缆绝对光功率试验
(ANSI/TIA/EIA 455-95A-2000)
测量温度冲击对光纤元件影响的程序
(ANSI/EIA/TIA 455-71-1989)
评定最高和最低照射温度对光纤性能影响的试验程序
(ANSI/EIA/TIA 455-69A-1991)
温度和湿度老化对光学纤维机械特性影响的测量程序
(ANSI/TIA-455-161-1996)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: