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使用OTDR的反射和分裂或连结损失的测量
标准编号
ANSI/TIA/EIA 455-8-2000
中图分类号
M04
ICS分类号
33_180_10
发布单位
美国国家标准学会(ANSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2000-01-01
相似标准
使用一个OTDR测量光纤点缺陷
(ANSI/TIA/EIA 455-59-A-2000)
使用光时域反射计(OTDR)测量接头损耗或连接器损耗和反射比
(ANSI/TIA-455-8-2000)
使用光时域反射计(OTDR)测量光纤点缺陷
(ANSI/TIA-455-59-A-2000)
用OTDR(光学时域反射计)测量光纤和光缆衰减
(ANSI/EIA/TIA 455-61-1989)
用OTDR(光学时域反射计)测量光纤和光缆长度
(ANSI/EIA/TIA 455-60-1989)
用OTDR测量光纤或电缆衰减
(ANSI/TIA/EIA 455-61A-2000)
利用OTDR进行纤维点缺陷测量
(ANSI/TIA/EIA 455-59-B-2000)
利用OTDR进行纤维和光缆长度测量
(ANSI/TIA/EIA 455-60-A-2000)
利用光时域反射计(OTDR)进行光纤或光缆的衰减测量
(ANSI/TIA-455-61A-2000)
FOTP226.光学时域反射计(OTDR's)的校准
(ANSI/TIA/EIA 455-226-2002)
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