你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
X射线荧光光谱测定法总则
标准编号
JIS K0119-1997
中图分类号
G04
ICS分类号
71_040_50
发布单位
日本工业标准调查会(JISC)
状态
作废
标准类别
国际标准
发布日期
1997-09-20
相似标准
X射线荧光光谱测定法总则
(JIS K0119-2008)
电位测定、电流测定、库仑测定和费歇尔滴定测定法总则
(JIS K0113-1997)
钢铁.X射线荧光光谱分析法
(JIS G1256-1997)
铜和铜合金的X射线荧光光谱分析法
(JIS H1292-1997)
表面化学分析.用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面主要污染物
(JIS K0148-2005)
锆合金的X射线荧光光谱测定分析方法
(JIS H1669-1990)
铁合金的X射线荧光光谱测定分析方法
(JIS G1351-1987)
钛合金.X射线荧光光谱测定分析法
(JIS H1631-2008)
使用能量色散X射线荧光光谱法测定土壤和沙地中的砷和铅含量
(JIS K0470-2008)
橡胶.识别.红外线光谱测定法
(JIS K6230-1998)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: