你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
半导体装置.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
标准编号
NF C96-022-27-2006
中图分类号
L40
ICS分类号
31_080_01
发布单位
法国标准化协会(AFNOR)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2006-12-01
实施日期
2006-12-05
相似标准
半导体装置.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
(NF C96-022-26-2006)
半导体装置.机械和气候试验方法.第39部分:测量用于半导体元件的有机材料的湿气扩散性和水溶解性
(NF C96-022-39-2006)
半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
(BS EN 60749-27-2006)
半导体器件.机械和气候试验方法
(NF C96-022/A2-2002)
半导体装置.机械和气候试验方法.第35部分:用于塑封电子元件的声学显微方法
(NF C96-022-35-2006)
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
(NF C96-022-5-2003)
半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器
(NF C96-022-33-2005)
半导体装置.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
(NF C96-022-6-2002)
半导体装置.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
(NF C96-022-17-2003)
半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
(NF C96-022-8-2003)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: