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精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度

标准编号
JIS R1636-1998
中图分类号
Q32
ICS分类号
81_060_30
发布单位
日本工业标准调查会(JP-JISC)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
1998-01-20

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