你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
硅(锂)X射线探测器系统测试方法
标准编号
GB/T 8992-1988
中图分类号
F80
ICS分类号
13.280
状态
作废
标准类别
国家标准
发布日期
1988-04-12
实施日期
1989-01-01
相似标准
硅(锂)X射线探测器系统
(GB/T 13179-2008)
硅(锂)X射线探测器系统
(GB/T 13179-1991)
锗(锂)γ射线探测器测试方法
(GB 7167-1987)
医用乳腺数字化X射线摄影用探测器
(YY/T 1307-2016)
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
(GB/T 11685-2003)
医用电气设备 数字X射线成像装置特性 第1-2部分:量子探测效率的测定 乳腺X射线摄影用探测器
(YY/T 0590.2-2010)
锗γ射线探测器测试方法
(GB/T 7167-2008)
锗γ射线探测器测试方法
(GB/T 7167-1996)
半导体探测器X射线能谱仪通则
(GB/T 20726-2006)
辐射探测器环境试验基本要求与方法 磁场试验
(GB/T 10263.4-1988)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: