你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
FOTP78.IEC 60793-1-40.光纤.第1-40部分:测量方法和试验程序.衰减
标准编号
ANSI/TIA/EIA 455-78B-2002
中图分类号
M11
ICS分类号
33_180_10
发布单位
美国国家标准学会(ANSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2002-01-01
相似标准
FOTP78.IEC 60793-1-40.光纤.第1-40部分:测量方法和试验程序.衰减
(ANSI/TIA-455-78B-2002)
FOTP-227-IEC 61300.纤维光学器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-24部分:检查和测量.采用偏振保持光纤连接器键入准确度
(ANSI/TIA/EIA 455-227-2002)
FOTP234.IEC60793-1-52光纤.第1-52部分:测量方法和试验程序.温度的改变
(ANSI/TIA-455-234-2003)
单模式光纤(SP-3644)的光谱衰减减少测量
(ANSI/TIA/EIA 455-78A-1990)
IEC 60793-1-43光纤.第1-43部分:测量方法和试验程序.数值孔径
(ANSI/TIA-455-177-B-2003)
FOTP-178 IEC 60793-1-32 光学纤维.第1-32部分:测量方法和试验规程.涂层可剥离性
(ANSI/TIA-455-178-B-2003)
推荐的新FOTP(光纤试验程序)-光纤元件的低温试验
(ANSI/EIA/TIA 455-188-1991)
FOTP-227-IEC 61300.纤维光学装置和无源元器件.基本试验和测量程序.第3-24部分:检查和测量.偏振保持光纤用光连接器的键控准确性
(ANSI/TIA-455-227-2002)
光纤和光缆中辐射诱导衰减的测量程序
(ANSI/TIA/EIA 455-64-1997)
推荐新FOTP(光纤试验程序) ,光纤元件测定仪表保持力测量
(ANSI/EIA/TIA 455-186-1991)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: