你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
半导体工艺用材料的检验.液体中粒子分析的试验方法.第1部分:粒子的显微镜测定
标准编号
DIN 50452-1-1995
中图分类号
H82
ICS分类号
29_045
发布单位
德国标准化学会(DIN)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
1995-11-01
相似标准
半导体工艺材料的检验.溶液内粒子解析法.显微镜粒子测定
(DIN 50452-1-1988)
半导体工艺材料的检验.液体中颗粒分析的试验方法.第3部分:光学粒子计数器校正
(DIN 50452-3-1995)
半导体工艺材料的检验.溶液内粒子解析法.显微镜粒子测定
(DIN 50452 T.1-1988)
半导体工艺材料的检验.液体中颗粒分析的试验方法.第2部分:用光学粒子计数器对颗粒的测定
(DIN 50452-2-1991)
半导体工艺用材料测试.液体中痕量元素测定.第3部分:用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中铝(AL)、钴(Co)、铜(Cu)、钠(Na)、镍(Ni)和锌(Zn)的含量
(DIN 50451-3-2003)
半导体工艺用材料测试.液体中痕量元素测定.第5部分:在每千克微克和每千克豪微克范围之内的痕量元素测定用样品和样品制备装置的材料选择及其适用性试验指南
(DIN 50451-5-2010)
半导体工艺用材料检验.液体微量金属的规定.硝酸溶剂内的银金.铜
(DIN 50451-1-1987)
半导体工艺用材料的检验.液体中金属微量的测定.用等离子感应的发射光谱测定氢氟酸中的钴(Co).铬(Cr).铜(Ca).铁(Fe)和镍(Ni)
(DIN 50451-2-1990)
半导体工艺用材料的检验.液体中金属微量的测定.用等离子感应的发射光谱测定氢氟酸中的钴(Co).铬(Cr).铜(Ca).铁(Fe)和镍(Ni)
(DIN 50451 T.2-1990)
半导体工艺用材料的检验.液体中金属微量的测定.用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中铝(AL),钴(Co),铜(Cu),钠(Na),镍(Ni),锌(Zn)的含量
(DIN 50451-3-1994)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: