你好
，欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.一般条件和定义
标准编号
BS EN 61967-1-2002
中图分类号
L56
ICS分类号
31_200
发布单位
英国标准学会(BSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2002-07-02
实施日期
2002-07-02
相似标准
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探法
(EN 61967-6-2002)
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.放射形辐射测量.表面扫描法
(BS DD IEC/TS 61967-3-2006)
集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1ohm/150ohm直接耦合法
(BS EN 61967-4-2002)
集成电路.150 kHz到1 GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探测器法
(BS EN 61967-6-2002+A1-2008)
集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 (IEC 61967-1:2002); 德文版本 EN 61967-1:2002
(DIN EN 61967-1-2003)
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
(DIN EN 61967-2-2006)
集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.磁性探测法
(BS EN 61967-6-2002)
集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放的测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法
(BS EN 61967-2-2005)
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
(EN 61967-2-2005)
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射测量.第6部分:传导辐射测量.磁探法
(DIN EN 61967-6-2003)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
：
新增
：
