你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
延迟计算和功率计算标准.第1部分:集成电路延迟计算和功率计算系统
标准编号
NF C82-100-1-2002
中图分类号
Y56
ICS分类号
31_200
发布单位
法国标准化协会(AFNOR)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2002-09-01
实施日期
2002-09-05
相似标准
延迟计算和功率计算标准.第2部分:互补金属氧化物半导体(CMOS)专用集成电路(ASIC)程序库用配套延迟计算规范
(NF C82-100-2-2003)
国际电工词汇.第521部分:半导体器件和集成电路
(NF C01-521-2002)
集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1 欧姆/150 欧姆直接耦合法
(NF C96-260-4-2002)
集成电路.150 kHz - 1GHz 电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义
(NF C96-260-1-2002)
分立半导体器件和集成电路.第5-1部分:光电子装置.总则
(NF C96-005-1/A2-2002)
半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则
(NF C96-005-1/A1-2002)
分立半导体装置和集成电路.第5-3部分:光电子装置.测量方法
(NF C96-005-3/A1-2002)
集成电路.150kHz~1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法
(NF C96-261-4-2006)
金融交易卡.采用集成电路卡的金融交易系统的证券结构.第3部分:密钥的相互关系
(NF K19-092-2002)
行为语言.第3-2部分:VHDL 中的数学运算
(NF C82-101-3-2-2002)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: